新型单光子侦测器特性分析设备

SPD2200具备全光谱性能测试包含：

• 全光谱光谱响应（SR, Spectral Responsivity）
• 全光谱量子效率（EQE, External Quantum Efficiency）
• 全光谱光子探测率（PDP, Photon Detection Probability）
• 暗计数DCR （Dark Count Rate）
• 崩溃电压BDV （Break-Down Voltage）     

SPD2200亦能够测试SPD的单光子辨析特性分析，包含：

• Jitter
• Afterpulsing probability
• Diffusion tail
• SNR

SPD2200整合了所有先进光学与电学系统，搭配光焱科技多年光感测器测试与分析的经验，提供完整与便利的软体控制介面与分析功能。 SPD2200可帮助您节省系统搭设的时间成本，并降低测试结果的不确定性。加快产品的开发周期，提升产品的竞争力。