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目前 LED 发展所面临的挑战包含：
(1) 新型态的 LED 具备低亮度 (< 50000 cd/m2)、衰减快的特性
(2) 发光半宽（FWHM）较传统 LED 小 (OLED~100 nm; PVSK LED~50 nm)
(3) 非朗伯体 (Non-Lambertian) 分布，使得辉度 (cd/m2) 换算 EQE 时误差很大
(4) 发光波长超过视函数波段 (可见光范围)，无法以光通量与辉度评价
其中「衰减快」与「红外发光的准确评价」，是与转换效率高低息息相关，因此光焱科技推出 LQ-50X，采用单光子侦测技术、NIR 增强光学设计与组件并拥有简便的设计可与手套箱直接整合。
我们将根据您的需求提供定制解决方案，并将传感技术集成到您的产品、产品应用和 OEM 解决方案中。告诉我们更多，我们会启发您的想法。
LQ-50X 可快速测试每个电压下的发光光谱，并可取得辐照度、辉度、CIE坐标等多项参数值，实测无机 LED 测试量测不重复性小于 0.2 %。
| 发光光谱 | 单点光谱测量时间 |
|---|---|
| 高亮度 > 6000 cd/m2 | < 20 ms |
| 低亮度 > 100 cd/m2 | < 100 ms |
| 超低亮度 > 10 cd/m2 | < 500 ms |
LQ-50X 为 NIST 溯源，与国外校正的白光与绿光 LED 比对，差异值小于 0.5 %。
| Certified Value (lm) | LQ-100 (lm) | Deviation (%) | |
|---|---|---|---|
| G-LED | 3.426 | 3.453 | 0.39 % |
| W-LED | 4.652 | 4.629 | 0.25 % |
标准配置：
选配规格：
量测结果总览
