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LQ-50X 高速/高灵敏电致发光效率测试系统

最灵敏的 LED 电致发光量测系统

目前 LED 发展所面临的挑战包含:

(1) 新型态的 LED 具备低亮度 (< 50000 cd/m2)、衰减快的特性

(2) 发光半宽(FWHM)较传统 LED 小 (OLED~100 nm; PVSK LED~50 nm)

(3) 非朗伯体 (Non-Lambertian) 分布,使得辉度 (cd/m2) 换算 EQE 时误差很大

(4) 发光波长超过视函数波段 (可见光范围),无法以光通量与辉度评价

其中「衰减快」与「红外发光的准确评价」,是与转换效率高低最息息相关,因此光焱科技推出 LQ-50X,采用单光子侦测技术、NIR 增强光学设计与组件并拥有简便的设计可与手套箱直接整合。

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目录

我们将根据您的需求提供定制解决方案,并将传感技术集成到您的产品、产品应用和 OEM 解决方案中。告诉我们更多,我们会启发您的想法。

特色

  • 采用单光子侦测技术,克服传统光谱仪在低亮度需要长曝光时间 (1~3秒) 的特征,加快测试速度,以确保测试的准确性与高效率。
  • 采用 NIR 增强光学设计与组件,使其涵盖波长可达到 1100 nm,更可扩展到 1700 nm。
  • 设计简便,并且可与手套箱直接整合,同时对于各种样品形式都可以做很好的适配。

LQ-50X 可快速测试每个电压下的发光光谱,并可取得辐照度、辉度、CIE坐标等多项参数值,实测无机 LED 测试量测不重复性小于 0.2 %。

发光光谱单点光谱测量时间
高亮度 > 6000 cd/m2< 20 ms
低亮度 > 100 cd/m2< 100 ms
超低亮度 > 10 cd/m2< 500 ms

LQ-50X 为 NIST 溯源,与国外校正的白光与绿光 LED 比对,差异值小于 0.5 %。

 Certified Value (lm)LQ-100 (lm)Deviation (%)
G-LED3.4263.4530.39 %
W-LED4.6524.6290.25 %

规格

标准配置:

  • 全向式收光系统 (50 mm 积分球)
  • 增强型多信道光谱仪测试系统
  • 探针系统
  • 量测软件
  • 工控机与屏幕

选配规格:

  • 红外光谱扩充模块 (900 – 1700 nm)
  • 手套箱整合套件

应用

  • Perovskite LED / Perovskite Laser Diode
  • Organic IR LED
  • QD LED / QD Laser Diode
  • VESEL Laser Diode

实证

量测结果总览

 

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