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SG-A 系统是世界上第一个商用 CMOS 图像传感器测试仪。SG-A 可以提供最全面的 CMOS 图像传感器参数表征，如全光谱量子效率 QE、整体系统增益 K、时间性暗噪声、信噪比、绝对灵敏度阈值、饱和容量、动态范围、DSNU、PRNU、线性误差和首席射线角 CRA。被测设备可以是几种类型的 CMOS 图像传感器模块。检验程序符合 EMVA 1288 标准。因此，SG-A CMOS 图像传感器测试仪可用于进行晶圆级光学检测、加工参数控制、微透镜设计、微透镜验证。SG-A CMOS 图像传感器测试仪的高度准直光束（<1°）可以克服传统光学系统（如积分球系统）无法解决的新制造工艺的检测困难。这些工艺包括小像素（< 1 um）、BSI 和 3D 堆叠、微透镜、新的拜耳阵列设计等等。
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无损光学检测。
高度准直梁角 / 高准直波束角 < 0.05 度, < 0.1 度, < 0.5 度, < 1 度, < 3 度 (不同型号)
高均匀光束点：≥ 99%。
DUT 封装：CIS 模块，PCB 板级，CIS 摄像头，有 / 无微透镜。
SG-A 型 CMOS 图像传感器测试仪的功能非常强大，因此相关的规格和配件也非常齐全。请与我们联系，以了解更多细节和选择咨询, 以下是主要的能力规格：
– 全光谱的波长范围：300 – 1100 纳米或 350 – 1000 纳米（PTC）。
– 波长范围可以扩展到 1700 纳米或更高。
– 单一波长源。470 纳米, 530 纳米, 630 纳米, 940 纳米（±5纳米）或自定义。
– 动态范围：80dB、100dB 或 140dB。
– 测试夹具：DUT ≤ 100mm x 100mm x 30mm (高度)[基本型] 或订制。
– 平台：无，手动 3 轴或 6 轴（手动 + 自动）平台（可订制)
SG-A CMOS图像传感器测试仪
SG-A CMOS图像传感器测试仪
SG-A CMOS图像传感器测试仪
